件算法结合延长双列直插式内存条（DIMM）插槽寿命。这意味着在更换测试器件时不必关电源和重新引导系统。当然，新型测试仪并不等于母板，它是一种性能优化的测试仪。它还将配备重载测试插槽。
DDR DIMM内存条测试处理
内存条测试仪最重要的部分是自动处理机。处理机一般采用镀金连接器以保证与内存条良好的电接触。在频率为266MHz时，2英寸长的连接器将会造成测试信号极大衰减。为解决上述难题，一种新型处理机面市了。它采用普通手动测试仪的插槽。测试仪可以模拟手动插入，平稳地插入待测内存条的插槽；一旦测试完成，内存条又可以平稳地从插槽中拔出。
结论
DDR测试技术的转变是以一种渐进方式而不是突变方式进行的。JEDEC（业界标准委员会）不再停留在该技术上，而是推进其发展。根据JEDEC的规划，DDR333将于2002年推出；DDRII将于2004年推出。物理封装将由TSOPII（小型塑料封装）过渡到FBGA（倒装球格阵列）。内存测试工程师们将会继续面对新的挑战，他们将以他们出色的工作来迎接这些挑战。
DDR2
DDR2（Double Data Rate 2） SDRAM是由JEDEC（电子设备工程联合委员会）进行开发的新生代内存技术标准，它与上一代DDR内存技术标准最大的不同就是，虽然同是采用了在时钟的上升/下降延同时进行数据传输的基本方式，但DDR2内存却拥有两倍于上一代DDR内存预读取能力（即：4bit数据读预取）。换句话说，DDR2内存每个时钟能够以4倍外部总线的速度读/写数据，并且能够以内部控制总线4倍的速度运行。
DDR2内存的频率
此外，由于DDR2标准规定所有DDR2内存均采用FBGA封装形式，而不同于目前广泛应用的TSOP/TSOP-II封装形式，FBGA封装可以提供了更为良好的电气性能与散热性，为DDR2内存的稳定工作与未来频率的发展提供了坚实的基础。回想起DDR的发展历程，从第一代应用到个人电脑的DDR200经过DDR266、DDR333到今天的双通道DDR400技术，第一代DDR的发展也走到了技术的极限，已经很难通过常规办法提高内存的工作速度；随着Intel最新处理器技术的发展，前端总线对内存带宽的要求是越来越高，拥有更高更稳定运行频率的D
